DX-center-related features by capacitance measurements in AlGaAs / Ghezzi, Carlo; E., Gombia; R., Mosca. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - 70:(1991), pp. 215-220.

DX-center-related features by capacitance measurements in AlGaAs

GHEZZI, Carlo;
1991-01-01

1991
DX-center-related features by capacitance measurements in AlGaAs / Ghezzi, Carlo; E., Gombia; R., Mosca. - In: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. - ISSN 0021-8979. - 70:(1991), pp. 215-220.
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