Hall measurements under weak persistent photoexcitation in Si-doped AlxGa1-xAs / Baraldi, Andrea; Ghezzi, Carlo; Parisini, Antonella; Bosacchi, A.; Franchi, S.. - In: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0268-1242. - 6:(1991), pp. B27-B30.

Hall measurements under weak persistent photoexcitation in Si-doped AlxGa1-xAs

BARALDI, Andrea;GHEZZI, Carlo;PARISINI, Antonella;
1991-01-01

1991
Hall measurements under weak persistent photoexcitation in Si-doped AlxGa1-xAs / Baraldi, Andrea; Ghezzi, Carlo; Parisini, Antonella; Bosacchi, A.; Franchi, S.. - In: SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 0268-1242. - 6:(1991), pp. B27-B30.
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