OPTICAL EVIDENCE OF AN ELECTROTHERMAL DEGRADATION OF INGAN BASED LIGHT EMITTING DIODES DURING ELECTRICAL STRESS / Salviati, M. P. A. V. E. S. I. G.; N., Armani; F., Rossi; Manfredi, Manfredo; G., Meneghesso; S., Levada; E., Zanoni; S., Du; I., Eliashevich. - In: APPLIED PHYSICS LETTERS. - ISSN 0003-6951. - 84:(2004), pp. 8403-8405.
OPTICAL EVIDENCE OF AN ELECTROTHERMAL DEGRADATION OF INGAN BASED LIGHT EMITTING DIODES DURING ELECTRICAL STRESS
MANFREDI, Manfredo;
2004-01-01
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